在Prognostics and Systems Health Management within the Internet of Things、Research To Address No-Fault Founds系列报告中,Michael Pecht介绍了其在电子系统失效预测与数据分析、物联网等方面的最新研究进展,分享了他在这些研究方向上的一些最新想法。报告结束后,Michael Pecht与科研人员和研究生进行了热烈的探讨交流。Michael Pecht希望在今后针对共同开发基于无线传感网的状态监测装置、电子设备间歇性故障问题开展进一步的研究交流。
Michael Pecht是电子产品及系统可靠性与风险评估、故障预测与健康管理、电子元器件的选择与管理等方面的国际知名专家。他长期引领着上述领域的发展,并在理论和实践方面做出了卓越的贡献。Michael Pecht是美国科学/工程院(National Academy of Science / Engineering, NAE / NAS)可靠性委员会成员、美国国会调查委员会专家(负责能源&商业领域)、美国食品与药品监督管理局(FDA)专家,并担任电气和电子工程师协会会士(IEEE Fellow) 、美国机械工程师协会会士(ASME Fellow)、美国汽车工程师协会会士(SAE Fellow)和国际微电子与组装协会会士(IMAPS Fellow)。Michael Pecht出版过20多本关于电子产品开发、使用及供应链管理的著作,发表了700多篇学术论文。因其所取得的卓越成就,Michael Pecht获评2015年度中国科学院“国际杰出学者”。