工业控制网络与系统研究室副研究员王锴接受获奖证书

　　8月16日至19日，2013年IEEE 国际电子测量与仪器学术会议（IEEE International Conference on Electronic Measurement & Instruments, 以下简称IEEE ICEMI）在哈尔滨召开。本次会议上，中国科学院沈阳自动化研究所工业控制网络与系统研究室副研究员王锴和研究员徐皑冬等合作的论文Assessment of the Effect of Common Cause Failure and Diversity on Diagnostic Coverage of a Self-checking Pair脱颖而出，获与会专家好评并最终获得2013 IEEE ICEMI优秀学术报告一等奖。 

　　该论文的核心思想是建立了一种新颖的安全仪表系统不完全覆盖及共因失效混合模型，首次对冗余组件之间的差异、系统共因失效率以及诊断覆盖率之间的数学关系展开研究。研究结果对于进一步提高安全仪表系统可靠性评估结果的准确性有重要意义。 

　　IEEE ICEMI是电子测量与仪器领域内最具影响力的国际会议，每两年举办一次。本次会议由IEEE和中国电子学会共同主办，协办单位为美国CMG学会，承办单位为哈尔滨工业大学等。会议主题包括：工业自动化测量与控制、组件与系统可靠性、容错控制与故障诊断、设备健康管理、测试测量仪器、测量软件系统及应用等。大会收到了来自中国、美国、加拿大、澳大利亚、英国、日本等多个国家和地区的636篇论文。经过严格的同行评议，最终仅有226篇论文被收录至IEEE论文集，录取率为35.5%。 

　　近年来，沈阳自动化所积极鼓励科研人员参加高水平国际学术会议，开拓学术视野和促进学术交流，使科研人员学术能力和基础研究水平不断提高。近年来，沈阳自动化先后有多篇论文在学术会议上获奖，扩大了沈阳自动化所研究成果的国际影响力。（工业控制网络与系统研究室 王锴）